低對(duì)比度分辨力檢測(cè)模體拍攝范圍的選取應(yīng)該注意哪些？
點(diǎn)擊次數(shù)：1433 更新時(shí)間：2022-11-24
低對(duì)比度分辨力檢測(cè)模體也叫分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。是由黑色和白色的線組成，頻率不一，分布在不同的水平和垂直方向。
低對(duì)比度分辨力檢測(cè)模體的使用方法：
1、首先就需要確定好標(biāo)版的材料、尺寸、倍數(shù)。
2、安裝測(cè)試卡。一般講測(cè)試卡安裝在平滑墻面上，固定好測(cè)試卡即可使用。
3、然后根據(jù)測(cè)試卡的尺寸來(lái)確定拍攝距離。原則上應(yīng)該選擇能讓有效高度正好充滿(mǎn)畫(huà)面的測(cè)試卡。
拍攝范圍的選取應(yīng)該注意：
a.測(cè)試卡有效高度充滿(mǎn)畫(huà)面時(shí)，測(cè)試卡的4:3區(qū)域也應(yīng)該正好充滿(mǎn)畫(huà)面。在取景偏大或偏小的情況下，應(yīng)盡量使4:3區(qū)域中的J1、K1、J2、K2、JD、KD處于畫(huà)面中心。
b.測(cè)試四角分辨率時(shí)，要分別將四角上的十字型測(cè)試單元置于畫(huà)面角落。實(shí)際操作可以將其16:9端線貼在畫(huà)面外框，測(cè)量這一端上下兩個(gè)角的分辨率，再測(cè)另一側(cè)兩個(gè)角的分辨率。
4、鏡頭設(shè)置
鏡頭設(shè)置包括曝光時(shí)間、白平衡、亮度、色彩、Gamma校正、拍攝模式攝像鏡頭在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要選擇預(yù)設(shè)定的模式，采用默認(rèn)的設(shè)置拍攝即可。若果在特殊效果下拍攝測(cè)試，就需要給出說(shuō)明。
低對(duì)比度分辨力檢測(cè)模體使用時(shí)，將模體置于X射線機(jī)與探測(cè)器之間，X射線束垂直入射，曝光后觀察影像，調(diào)節(jié)觀察條件以獲得Z佳測(cè)試結(jié)果。
